图书介绍

半导体存储器及其测试【2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载】

林雨著著
出版社：北京：科学出版社
ISBN：15031·289
出版时间：1980
标注页数：368页
文件大小：11MB
文件页数：376页
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图书目录

目录1

序1

第一章　半导体存储器1

1.1　计算机与半导体存储器1

前言3

1.2　半导体存储器的一般结构与分类7

1.3　半导体存储器的发展方向22

第二章　存储单元37

2.1　利用电容存储信息37

2.2　信息的恢复周期与P-ROM存储单元40

2.3　信息的恢复方式与存储单元的结构48

2.4　信息的传送方式与存储单元的结构55

2.5　功能器件与半导体存储器62

第三章　半导体存储器的外围电路73

3.1 外围电路的结构73

3.2　译码器88

3.3　读写电路104

3.4　时钟发生器113

第四章　双极存储器119

4.1　概述119

4.2　双极存储单元124

4.3　发射极耦合存储器139

4.4　二极管耦合存储器151

第五章　MOS存储器164

5.1　概述164

5.2　MOS存储器的存储单元168

5.3　单管单元的动态存储器177

5.4　三管单元的动态存储器187

5.5 四管单元的动态存储器与静态存储器199

第六章　半导体存储器的测试206

6.1 半导体随机存储器的测试方法206

6.2　功能测试与参数测试207

6.3　半导体存储器的测试图案214

6.4　半导体存储器的相脉冲及其他测试条件231

6.5　半导体存储器的参数测试235

6.6　唯读存储器及其测试238

第七章　半导体存储器测试图案发生器258

7.1 测试图案的发生258

7.2　存储器的测试图案发生器264

7.3　简易的测试图案发生器268

7.4　采用微程序控制的测试图案发生器296

第八章　半导体存储器测试仪315

8.1 引言315

8.2　存储器测试仪的结构316

8.3　数／模与模／数变换技术及其在测试中的应用321

8.4　计算机技术在测试中的应用345